高低溫箱 晶圓封裝測試 30秒溫變不傷元件 技術參數: 溫度范圍:-60℃至 150℃。 溫變速率:約 1.0℃/min(需較長時間達到目標溫度)。 控制精度:±0.2℃。
高低溫一體機 半導體老化試驗 1000次循環 高低溫一體機專為半導體老化試驗設計,支持 - 40℃至 150℃寬溫域精確控溫,溫度波動度 ±0.5℃,滿足芯片在極-端環境下的可靠性驗證需求。設備內置智能 PID 算法與快速溫變系統,溫變速率可達 5℃/min,單次循環周期縮短至傳統設備的 1/3,支持 1000 次以上長壽命循環測試
高低溫試驗箱現貨36L設備 防凝露技術 36L 現貨高低溫試驗箱專為實驗室及小批量測試設計,具備 - 40℃~150℃寬溫域控制能力,溫度波動度 ±0.5℃,滿足電子元件、材料老化等場景的可靠性驗證需求。設備采用先進防凝露技術,確保測試全程無冷凝風險。
高低溫試驗箱現貨 抗震耐腐蝕設計 具備 - 40℃~150℃寬溫域控制能力,溫度波動度 ±0.5℃,是航空、汽車、家電、科研等領域*的測試設備,用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環境變化后的參數及性能。
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